YANCHENT 推出XLP系列通用三维线激光扫描测头系统

CyberSCANNERS XLP系列三维激光扫描测头系统

为CyberOptics/LDI-Surveyor超高精度三维线激光扫描 测量系统所搭配
长久以来被行业认可的最优秀的高速、高精度、高分辨率三维线激光扫描测头技术，现在可以轻松移
植到传统三坐标测量机上了

更高的检测效率
扫描速度与上一代LDI激光测头相比提升70%
强大的Surveyor Scan Control (SSC)支持快速扫描编程
支持快捷扫描并提供点云检测软件插件
支持高速数据接口与CMM相连

更高的精度和分辨率
 与上一代LDI激光测头相比，扫描精度提升50%
与上一代LDI激光测头相比，扫描分辨率提升30%
原厂NIST可溯源校准确保XLP扫描结果

多功能且应用广泛
采用先进的噪声抑制技术和三维滤波技术，可直接扫描大部分材质或颜色的表面
自动可编程三至六轴扫描控制和路径规划技术，实现高速三维扫描和零件扫描设置
多个型号可供选择，以适应小且多特征的样件或大型的汽车或航空零部件

开放的应用开发工具和接口支持
应用开发工具包含了必须的数据采集、缓存和轮廓测量结果
可为集成商提供基于PC开发环境的ActiveX控制、库函数和软硬件支持

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XLP250系列
http://www.yanchent.com/content_287.aspx

XLP500系列
http://www.yanchent.com/content_288.aspx

XLP1000系列
http://www.yanchent.com/content_289.aspx